F20薄膜厚度測(cè)量?jī)x
使用F20高級(jí)頻諾反射測(cè)量系統(tǒng),我們能輕松的實(shí)現(xiàn)對(duì)膜層厚度和光學(xué)常數(shù)(n和k值)的測(cè)量。通過(guò)對(duì)膜層頂部、底部反射光諾進(jìn)行分析,數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射牢和消光系數(shù)。
使用F20高級(jí)頻諾反射測(cè)量系統(tǒng),我們能輕松的實(shí)現(xiàn)對(duì)膜層厚度和光學(xué)常數(shù)(n和k值)的測(cè)量。通過(guò)對(duì)膜層頂部、底部反射光諾進(jìn)行分析,數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射牢和消光系數(shù)。